Massachusetts Institute of Technology 연구진이 양자 얽힘 기술을 활용해 하나의 고체형 양자센서로 여러 물리량을 동시에
측정하는 기술을 개발하였습니다. 연구진은 다이아몬드 기반 NV 센서를 이용해 마이크로파의 세기·주파수·위상을 한 번에 측정하는 데
성공했으며, 기존 순차 측정보다 높은 정확성과 효율을 입증하였습니다. 특히 기존 극저온 중심 연구와 달리 상온 환경에서 구현돼
바이오·재료·응집물질 연구 등 실제 활용 가능성이 높다는 평가를 받고 있으며, 향후 암세포 분석, 전자·원자 거동 연구,
복합 재료 분석 등 다양한 분야 적용이 기대됩니다.
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